41. Semiconductor devices in harsh conditions /
پدیدآورنده : edited by Kirsten Weide-Zaage and Malgorzata Chrzanowska-Jeske
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Environmental testing,Extreme environments,Semiconductors-- Reliability
رده :
TK7871
.
85
.
S449
2017
42. Semiconductor devices measurments and tests
پدیدآورنده : [by] G. Grin translated from the Russain by Alexander repyev
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Semiconductors,Semicondcturs-testing
رده :
TK
7871
.
85
.
G67413
43. Semiconductor devices measurements & tests
پدیدآورنده : GRIN,GRIGORY ISAAKOVICH
کتابخانه: (طهران)
موضوع : SEMICONDUCTORS , SEMICONDUCTORS TESTING , ELECTRIC MEASUREMENTS
رده :
TK
7871
.
85
.
G674
1980
44. Semiconductor devices; testing and evaluation
پدیدآورنده : / C. E. Jowett
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع : Semiconductors - Testing
رده :
621
.
38152
Jo-S
45. Semiconductor devices : testing and evaluation
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، Semiconductors-- Testing
رده :
TK
7871
.
85
.
J68
46. Semiconductor devieas measurements and tests
پدیدآورنده : Grin, Grigorii Isaakovich.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors-- Testing,، Electric measurements
رده :
TK
7871
.
85
.
G67413
47. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Dieter K. Schroder,Title
کتابخانه: مكتبة جامعة الإسلامية آزاد فرع قم (قم)
موضوع : Semiconductors,Semiconductors -- Testing
رده :
QC
.
S335
611
2006
48. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : / by Dieter K Schroder
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors,Semiconductors- Testing,Semiconductors devices
رده :
QC611
.
S335
1990
49. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : / Dieter K. Schroder
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors,Semiconductors , Testing
رده :
E-BOOK
50. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Schroder, Dieter K.
موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors-- Testing
۸ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
51. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Schroder, Dieter K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Semiconductors,Testing ، Semiconductors
رده :
QC
611
.
S335
1998
52. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : / Dieter K. Schroder
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors,Semiconductors- Testing
رده :
QC611
.
S335
2006
53. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Schroder, Dieter K
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors -- Testing
رده :
QC
611
.
S335
1990
54. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Dieter K.Schroder
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : semiconductors,semiconductors-testing
رده :
QC
611
.
S335
2005
55. Semiconductor material and device characterization
پدیدآورنده : Schroder, Dieter K.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Semiconductors , Semiconductors - Testing
رده :
QC
611
.
S335
1998
56. Spreading Resistance Symposium : proceedings of a symposium, held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Md., June 13-14, 1974
پدیدآورنده : James R. Ehrstein, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Testing Congresses ، Semiconductors,Congresses ، Electric resistance, Spreading
رده :
QC
100
.
U57
1974
57. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
58. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
J49
59. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : Richards, B. P.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
60. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /
پدیدآورنده : Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.
رده :
TK7874
.
B35
2010
